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UCSC, 백사이드 클록 메시로 2nm 나노시트에서 스큐와 전력 절감

SemiEngineering · 2026.10.06 03:07 · 원문 사이트
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홈 기술 논문 2026년 10월 5일 - 작성자: 기술 논문 링크 캘리포니아 대학교 산타크루즈 연구진은 “2nm GAAFET BSPDN 기술을 위한 백사이드 클럭 메시의 설계 공간 탐색”이라는 제목의 기술 논문을 발표했습니다. 초록 발췌: “클럭 메시는 높은 성능의 VLSI 설계에서 스큐(skew)를 최소화하고 칩 내 변동을 견디기 위해 사용되지만, 프리미엄 금속 레이어에서 희소한 라우팅 자원을 소모합니다. 백사이드 전력 공급은 새로운 옵션을 제공합니다. 웨이퍼 뒷면에 두껍고 저항이 낮은 금속 레이어를 추가하며, 전력 그리드가 그 모든 레이어를 차지하지는 않습니다. 플립플롭은 전면(frontside)에 남아 있으므로, 백사이드 메시는 이를 직접 구동할 수 없으며 모든 연결은 실리콘 관통 비아(TSV)를 통해 이루어집니다. 우리는 GT2N이라는 2nm 나노시트 기술에서 OpenROAD를 구현하여 백사이드 클럭 메시의 설계 공간 탐색을 최초로 제시합니다.” 기술 논문을 여기서 확인하십시오. 2026년 10월. Ali, Wajid, Muhammad Hadir Khan, Dalton Gaddy, 그리고 Matthew Guthaus. “2nm GAAFET BSPDN 기술을 위한 백사이드 클럭 메시의 설계 공간 탐색.” arXiv 사전 인쇄 arXiv:2610.02401 (2026년 10월). https://doi.org/10.48550/arXiv.2610.02401 - 행 병렬 DRAM 컴퓨팅이 데이터 재구성 오버헤드를 줄임 (시러큐스, FAU, 드레스덴 공과대학) 2026년 10월 5일 by Technical Paper Link - 백사이드 클럭 메시가 2nm 나노시트에서 스큐와 전력을 절감 (UCSC) 2026년 10월 5일 by Technical Paper Link - 물리적 장치에서 RTL까지 하드웨어 설계 추적 (인피니온, TU 뮌헨) 2026년 10월 2일 by Technical Paper Link - 높은 처리량의 LLM 서빙을 위한 HBF (UC 버클리, FuriosaAI) 2026년 10월 2일 by Technical Paper Link - CAN XL의 형식적 자동차 보안 분석 (조지아 공과대학, QCRI, 퍼듀 대학) 2026년 10월 2일 by Technical Paper Link AI 워크로드는 자동차 센서를 더 강하게 밀어붙이며, 엔지니어들이 안전 중요 시스템이 신뢰될 수 있는 기간을 어떻게 재고해야 하는지 강요하고 있습니다. AI 에이전트를 사용하여 생산성을 10배 향상시키는 방법. 에드 스펠링 작성 AI 및 그 촉진제들을 위한 충분한 자금; 80개 스타트업이 60억 달러 이상을 조달. 제시 앨런 작성 DAC의 주요 관심사; CHIPS 법안 자금; 중국의 임머전 DUV; UMC 확장; SIA의 산업 현황; DRAM 부족; 실적; PCB 설계 자격증 프로그램; IBM의 양자 우위; AI 보안 동맹; 외국 로봇 금지. SE 스태프 작성 한국, AI에 올인; 새로운 드레스덴 전력 파브; 인텔 확장; GM, 메모리 공급 확보; AI 전력 관리 자금 지원; 성숙 노드 파운드리 용량; 300mm 파브 장비; McKinsey의 전략적 IC 공급망 지도; 보안 위협; AI 번아웃. 온세미콘, 시냅틱스 인수; IBM의 7Å 칩, SRAM 면적 40% 증가; 1nm MoS2 나노튜브; AI 압력 지점; 메모리 업데이트; 2.5억 달러 CHIPS 법안 보조금; 영업비밀 도난; 새로운 고급 패키징 사이트; MEMS 용량; 휴머노이드; 실적. AI 클러스터가 랙 규모 한계를 넘어섬에 따라, 광 인터커넥트와 회로 스위칭은 데이터 센터가 확장되는 방식을 재편하고 있습니다. 브라이언 모이어 작성 램 리서치와 ASE 확장; 데이터 센터 변화; CPO 시스템 아키텍처 이니셔티브; 2D 트랜지스터 인터페이스 솔루션; USENIX 하드웨어 보안; 특허 소송; 이미지 센서; 프로그래머블 AI 멤리스터; 엔비디아의 새로운 계획; 실적; Tier IV의 L4 자동화 칩. - 스폰서 - 뉴스레터 가입 2.5D 5G 고급 패키징 AI AMD ANSYS 애플 애플드 머티리얼스 ARM Arteris 자동차 비즈니스 Cadence 칩렛 DRAM EDA EUV 글로벌파운드리 구글 IBM imec 인피니온 인텔 IoT IP Keysight 램 리서치 머신 러닝 메모리 Mentor Mentor Graphics MIT 엔비디아 NXP (이 부분 번역 실패) - Bump의 공평면성 및 불일치가 수율과 신뢰성 문제를 야기하는 이유에 대한 Fieke Khan의 의견 - 칩 산업 주간 리뷰에 대한 Rajiv의 글 - Chiplets와 3D-IC가 새로운 전기적 및 기계적 과제를 추가한다는 Thermco의 Guy van der Walt - 엔지니어를 위한 Chiplet 기초: eBook에 대한 Stephen W의 소개 - 검증의 딜레마(The Verification Conundrum)에 대한 ShrdMem256의 글 - 다중 다이 어셈블리에 적응하기 어려운 웨이퍼 프로브의 어려움에 대한 Brendan McGuire의 분석 - 검증의 딜레마(The Verification Conundrum)에 대한 NobodyTestedThis의 글 - 칩 제조에서의 에이전틱 AI(Agentic AI)에 대한 Fiber Techs San Francisco의 글 - 산화물이 선도적인 메모리에서 낮은 누설 전류 트랜지스터를 가져온다는 SF Fiber Techs의 글 - NPU 설계에서의 중요한 트레이드오프 해결에 대한 humic의 글 - 데이터 센터에서 액체 냉각의 확산에 대한 Dr. Dev Gupta의 글 - 차세대 3D NAND 생산을 위한 심층 계측(Metrology)에 대한 Chipmetrics의 Mikko Utriainen - 3D 통합을 위한 하이브리드 본딩 애플리케이션에서 SiCN 필름을 사용한 웨이퍼 본딩 메커니즘에 대한 Raymond Doerr의 글 - Chiplets vs. 소프트 IP: 거의 모든 면에서 다르다는 Hoyong Lee의 글 - 12월 17일 블로그 리뷰에 대한 Nano Banana AI의 글 - 3D-IC의 열 관리: 핫스팟 모델링, 소재 및 냉각 전략에 대한 JS Paek의 글 - Chiplets vs. 소프트 IP: 거의 모든 면에서 다르다는 Larry K의 글 - 탄력적이고 최적화된 생성형 AI 시스템에 대한 Seceon.Inc의 글 - IC 제조에서의 개방형 및 확장형 데이터 공유를 통한 AI(NIST)에 대한 Linda Christensen의 글 - IC 제조에서의 개방형 및 확장형 데이터 공유를 통한 AI(NIST)에 대한 komputer의 글 - 유전체가 장치 성능을 어떻게 제한하는지: 열의 함정(The Thermal Trap)에 대한 Sree의 글 - 중국 생성형 AI: 누가 공백을 메울 것인가?에 대한 David Muncier의 글 - 하드 디스크 드라이브에 여전히 미래가 있는가?에 대한 acp의 글 - 레거시 공정 노드가 여전히 강세를 보이고 있다는 Carlos Borer의 글 - 머신러닝을 통한 컴팩트 모델링의 혁신: AI와 장치 모델링의 만남에 대한 Raj Sodhi의 글 - AI 시대에 반도체 테스트가 직면한 기술적 변화에 대한 Jaynarayan Tudu의 글 - 엣지 AI에 메모리 내 연산(In-Memory Computation)이 중요한 이유에 대한 Mihai Buta의 글 - SRAM PUF 기술의 경쟁 우위에 대한 Silver Luis의 글 -次世代 전자제품을 위한 핵심 기술인 고급 패키징에 대한 Gretchen Patti의 글 - AI 버블인가, 붐인가?에 대한 Ev roach의 글 - 칩 산업 주간 리뷰에 대한 Kathleen Murphy-Weber의 글 - 다중 다이 검증에 대한 Raz의 글 - 몰리브덴을 통한 메모리 스케일링에 대한 Paul C의 글 - 몰리브덴을 통한 메모리 스케일링에 대한 JWS의 글 - 모든 것에 전기를 공급하다: 전력이 IC로 이동하고 있다는 Klein Miller의 글 - 반도체 디스러PTION은 어떤 모습인가?에 대한 Rise Design Automation 팀의 글 - 인터포저 선 길이에 대한 물리적 한계에 대한 masa mizuno의 글 - 반도체 디스러PTION은 어떤 모습인가?에 대한 Lou Covey의 글 - 엣지에서의 복잡한 프로세서 혼합에 대한 Ricardo Shiroma의 글 - 글래스 서브스트레이트의 모멘텀 강화에 대한 Cor의 글 - 6G를 위해 새로운 안테나와 고급 IC가 필요하다는 Daya Young의 글 - 한계에서의 제조에 대한 Subramanian Srikanteswara Iyer의 글 - 데이터 센터에서 더 많은 대역폭을 위한 광 신호의 컬러링에 대한 Doug La Tulipe의 글 - 접촉 저항의 숨겨진 비용에 대한 WH의 글 - 미세 피치 하이브리드 본딩의 결함 감지를 위한 압박감下的 계측(Metrology)에 대한 Raymond Doerr의 글 - 한계에서의 제조에 대한 Raymond Doerr의 글 - DRAM의 진화에 대한 Mallikarjun의 글 - CHIPS법이 EDA 및 반도체 혁신을 어떻게 재편하고 있는가: 설계의 민주화에 대한 Klein Miller의 글 - 반도체 제조의 미래에 대한 30년간의 현장 경험에서 얻은 교훈에 대한 Klein Miller의 글 - 양자 컴퓨팅 시대를 준비하는 방법에 대한 Jonathan Kolber의 글 - HBM 스택의 과제에 대한 Pramod Gupta의 글 - 재구성 가능한 단일벽 탄소나노튜브 FeFET(펜실베이니아 대학교, 연세대학교 등)에 대한 Madeline Lueilwitz의 글 - Anne Meixner, KGD 필요성이 단립 다이 선별을 주도하다 - Capt kirk, 더 나은 클록 네트워크 설계하기 - Alex Martin, AI 노력과 misplaced된 자금 - Hamilton Carter, AI 노력과 misplaced된 자금 - Ilmu Komunikasi, 재구성 가능한 단일벽 탄소나노튜브 FeFET (펜실베이니아대, 연세대 등) - Giovanni Lostumbo, 새로운 프로세서 아키텍처가 에너지 효율을 높일까? - Brendon Berg, ESD 건, 과도 현상 및 테스트… 놀랍군! - GD, 인터커넥트에 관한 모든 것 - Raimo, 다가오는 위기: AI 데이터센터의 전력 소비 - Fred Chen, 레이저 집중 결과: 이온 빔 식각을 통한 EUV 라인 에지 거칠기 개선 - Fred Chen, EUV 포토레지스트를 위한 많은 옵션, 명확한 승자는 없음 - Amba Prasad, 반도체 엔지니어를 위한 고급 패키징 기초: 전자책 - Shakir Ullah, 실리콘 대체를 위한 경쟁 - Hwaiyu Geng, P.E., 가상 실험 설계를 통한 반도체 공정 개발 가속화 - Larry Gus Christiansen, 반도체 공급망의 리스크 감소 - Vikas Sharma, RTL 서오프 vs 기능 서오프: 차이점은 무엇인가? 행 병렬 DRAM 컴퓨팅 절감... 기술 논문 링크 백사이드 클록 메시가 스큐를 줄이다... 기술 논문 링크 저작권 ©2013-2026 SMG | 서비스 약관 | 개인 정보 보호 정책
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Home TECHNICAL PAPERS October 5th, 2026 - By: Technical Paper Link Researchers at the University of California, Santa Cruz published a technical paper titled “Design Space Exploration of Backside Clock Meshes for 2 nm GAAFET BSPDN Technology.” Abstract Excerpt: “Clock meshes are used in high-performance VLSI designs to minimize skew and tolerate on-chip variation, but they spend scarce routing resources on premium metal layers. Backside power delivery creates a new option: it adds thick, low-resistance metal layers on the back of the wafer, and the power grid does not consume all of them. Flip-flops remain on the frontside; a backside mesh therefore cannot drive them directly, and every connection passes through a through-silicon via. We present the first design-space exploration of backside clock meshes, implemented in OpenROAD on GT2N, a 2 nm nanosheet technology.” Find the technical paper here. October 2026. Ali, Wajid, Muhammad Hadir Khan, Dalton Gaddy, and Matthew Guthaus. “Design Space Exploration of Backside Clock Meshes for 2 nm GAAFET BSPDN Technology.” arXiv preprint arXiv:2610.02401 (October 2026). https://doi.org/10.48550/arXiv.2610.02401 - Row-Parallel DRAM Computing Cuts Data-Reorganization Overhead (Syracuse, FAU, TU Dresden) October 5, 2026 by Technical Paper Link - Backside Clock Meshes Cut Skew and Power in 2nm Nanosheets (UCSC) October 5, 2026 by Technical Paper Link - Tracing Hardware Design From Physical Devices to RTL (Infineon, TU Munich) October 2, 2026 by Technical Paper Link - HBF for High-Throughput LLM Serving (UC Berkeley, FuriosaAI) October 2, 2026 by Technical Paper Link - Formal Automotive Security Analysis Of CAN XL (Georgia Tech, QCRI, Purdue) October 2, 2026 by Technical Paper Link AI workloads are pushing automotive sensors harder, forcing engineers to rethink how long safety-critical systems can be trusted. 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As AI clusters push beyond rack-scale limits, optical interconnects and circuit switching are reshaping how data centers scale. by Bryon Moyer Lam Research and ASE expansions; data center shifts; CPO system architecture initiative; 2D-transistor interface solution; USENIX HW security; patent suits; image sensors; programmable AI memtransistor; Nvidia's new plan; earnings; Tier IV's L4 auto chip. - Sponsors - Newsletter Signup 2.5D 5G advanced packaging AI AMD ANSYS Apple Applied Materials ARM Arteris automotive business Cadence chiplets DRAM EDA EUV GlobalFoundries Google IBM imec Infineon Intel IoT IP Keysight Lam Research machine learning memory Mentor Mentor Graphics MIT Nvidia NXP Qualcomm Rambus Samsung security SEMI Siemens Siemens EDA Synopsys test TSMC verification - Erictc on Advanced Packaging Fundamentals for Semiconductor Engineers: eBook - Oliver Li on Photonics Fundamentals For Electronics Engineers: eBook - Ron Lavallee on Intuition and AI - Liz Allan on Multi-Agent AI Systems Must Work Like An Orchestra Without A Conductor - Simon Davidmann on Multi-Agent AI Systems Must Work Like An Orchestra Without A Conductor - Ben Zaryouh on Redefining Processes At Sub-2nm - Loma Harvey on Chip Industry Technical Paper Roundup: Sept. 8 - Ron Lavallee on From Spec To Formal Properties - delli on Chip Security Moves From Checkbox Compliance To Continuous Defense - mark holdaway on From Spec To Formal Properties - Viska Clanella Nugroho on All AI Data Center Interconnects Will Be Optical Within 5 Years - Tom Katsioulas on AI: Friend And Foe For Chip Security - Alex @ APIVALE on Chip Industry Week In Review - Matt bailey on AI Is Rewriting The IP Playbook - Matt bailey on AI Models Transform Defect Inspection And Review, But Can Fail To Scale - Alexis R. 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